用于半導(dǎo)體元器件與標(biāo)準(zhǔn)老化板之間的自動(dòng)上下料,以及半導(dǎo)體器件與老化座的自動(dòng)化裝配、自動(dòng)測(cè)試、下料挑片、標(biāo)記打包等
┃ FT測(cè)試功能 | 可對(duì)物料進(jìn)行上料測(cè)試分選, 并接駁老化試驗(yàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)結(jié)合在線測(cè)試 數(shù)據(jù)進(jìn)行下料測(cè)試分選 |
┃ 支持多種外掛(選裝)
| 支持單盤JEDEC標(biāo)準(zhǔn) TRAY(L315*W136*7.5mm ); 支持Auto Tray組件 和Tube料管入料等 |
┃ 選裝多種出供料模式 | 1.上料模式; 2.下料模式; 3.包裝轉(zhuǎn)換模式 |