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0571-85123400
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BTR-X600(功率單管HTRB)
高溫反偏老化試驗系統(tǒng)HTRB-nA級檢測精度

20余載大廠認可

有現(xiàn)貨,快速發(fā)貨

貨架產品,穩(wěn)定可靠

滿足各種封裝形式的二極管,三極管,場效應管, IGBT單管和可控硅等

半導體分立器件高溫反偏(HTRB)和高溫漏電流測試(HTIR)。


 高溫試驗箱

R.T.~ 200;

溫度波動度0.5 ℃,溫度偏差±2℃,溫度均勻性:2℃。

 容量

16個試驗通道;單板80個工位整機1280工位

 試驗電源

配置4臺(一臺電源對應一個試驗區(qū))Max 2000V;電源型號:客戶選配

 驅動板數(shù)量

16塊;

電壓檢測

電壓檢測:0.0~2000.0V;精度:±(0.5% rdg.+ 0.1) V;分辨率:0.1V

漏電流檢測:

電流檢測:10nA~50.00mA;精度:±(0.5% rdg.+0.01)μA;分辨率:1nA


試驗標準
產品特點
其他型號
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